Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
   ОКП
  630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ
  634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических
  634100 Приборы полупроводниковые

Приборы полупроводниковые

Искать в Приборы полупроводниковые
Искать!

Содержит 75 документов
Страницы: 1 2 3 4 »

ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 26086-84 Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1985Страниц: 15
ГОСТ 25212-82 Лазеры. Методы измерения энергии импульсов излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: утратил силу в РФ
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1983Страниц: 15
ГОСТ 24428-80 Лазеры газовые. Общие технические условия
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1982Страниц: 24
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 12
ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 10
ГОСТ 18604.11-88 Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента шума на высоких и сверхвысоких частотах
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1990Страниц: 18
ГОСТ 18472-88 Приборы полупроводниковые. Основные размеры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1989Страниц: 105
ГОСТ 19138.6-86 Тиристоры. Методы измерения электрических параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1987Страниц: 11
ГОСТ 18604.26-85 Транзисторы биполярные. Методы измерения временных параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1986Страниц: 11
ГОСТ 25819-83 Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1984Страниц: 12
ГОСТ 25213-82 Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1983Страниц: 15
ГОСТ 25373-82 Лазеры измерительные. Типы, основные параметры и технические требования
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: утратил силу в РФ
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 15
ГОСТ 25369-82 Фотоэлементы измерительные. Основные параметры. Методы измерений основных параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1983Страниц: 18
ГОСТ 18604.2-80 Транзисторы биполярные. Методы измерения статического коэффициента передачи тока
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 15
ГОСТ 18604.16-78 Транзисторы биполярные. Метод измерения коэффициента обратной связи по напряжению в режиме малого сигнала
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1979Страниц: 4
ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1980Страниц: 6
ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1976Страниц: 3
ГОСТ 18604.4-74 Транзисторы. Метод измерения обратного тока коллектора
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.10.1976Страниц: 4
ГОСТ 18604.6-74 Транзисторы. Метод измерения обратного тока эмиттера
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1976Страниц: 4
Страницы: 1 2 3 4 »
2010-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Государственный стандарты. скачатьПриборы полупроводниковые, Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ, ОКП,