Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
   ОКП
  620000 КОНДЕНСАТОРЫ

КОНДЕНСАТОРЫ

Искать в КОНДЕНСАТОРЫ
Искать!
Подкатегории категории КОНДЕНСАТОРЫ:
Конденсаторы постоянной емкости керамические
Конденсаторы постоянной емкости на основе стекла
Конденсаторы постоянной емкости слюдяные
Конденсаторы постоянной емкости пленочные с органическим синтетическим диэлектриком
Конденсаторы постоянной емкости оксидные
Конденсаторы прочие

Содержит 70 документов
Страницы: « 1 2 3 4 »

ГОСТ 28898-91 Конденсаторы постоянной емкости для электронной аппаратуры. Часть 11. Форма технических условий на фольговые полиэтилентерефталатные пленочные конденсаторы постоянной емкости, предназначенные для работы в цепях постоянного тока. Уровень качества Е
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1992Страниц: 16
ГОСТ 29107-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1992Страниц: 105
ГОСТ 29106-91 Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1992Страниц: 15
ГОСТ 28884-90 Ряды предпочтительных значений для резисторов и конденсаторов
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1992Страниц: 12
ГОСТ 28883-90 Коды для маркировки резисторов и конденсаторов
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1992Страниц: 16
ГОСТ 28885-90 Конденсаторы. Методы измерений и испытаний
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1992Страниц: 31
ГОСТ 28309-89 Конденсаторы постоянной емкости оксидно-электролитические алюминиевые. Методы испытаний на взрывоустойчивость
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1991Страниц: 4
ГОСТ 28236-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 3. Дополнительная информация. Раздел 1. Испытания на холод и сухое тепло
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 43
ГОСТ 28217-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Ес: Падение и опрокидование, предназначенное в основном для аппаратуры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 11
ГОСТ 27778-88 Конденсаторы постоянной емкости керамические. Общие технические условия
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1989Страниц: 57
ГОСТ 19656.10-88 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1989Страниц: 25
ГОСТ 26949-86 Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1988Страниц: 32
ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1986Страниц: 11
ГОСТ 11630-84 Приборы полупроводниковые. Общие технические условия
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1985Страниц: 43
ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 8
ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 6
ГОСТ 24613.7-83 Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 4
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 3
ГОСТ 24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1982Страниц: 3
ГОСТ 24613.4-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1982Страниц: 4
Страницы: « 1 2 3 4 »
2010-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Государственный стандарты. скачатьКОНДЕНСАТОРЫ, ОКП,